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掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II

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先進的SEM更為緊湊

寬幅僅為45 cm的緊湊型的設計，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。
全新開發的用戶界面和電子光學系統讓您深切體驗其高性能。

FlexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現*直觀的視野移動。
· 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現4.0 nm的分辨率
· 憑借獨特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現*高的畫質
· 全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現高畫質和高處理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位
· 大直徑（30毫米2）無氮EDS檢測器，可快速進行元素分析*2

*1設置到桌面上時，請將機體與電源盒分離

*2選項

小型高性能色譜柱
尺寸雖小，卻具備同類產品中*高的分辨率。


金顆粒沉積加速電壓：20 kV 倍率：60,000倍信號：SE 分辨率：4 nm		金顆粒沉積加速電壓：20 kV 倍率：50,000倍信號：BSE 分辨率：5 nm

高畫質
配備可優化放射電流的功能，以便在較低的加速電壓下也能獲得足夠的亮度，而獲得噪點小且清晰的圖像。


儲氫合金加速電壓：5 kV 倍率：30,000倍信號：SE、無金屬涂層		Al-Ni復合材料加速電壓：3 kV 倍率：10,000倍信號：BSE、無金屬涂層

可用高畫質和快速觀察
搭載GUI和自動調節功能，讓初學者也能得心應手。只要按一下自動對焦（AFC）、自動亮度調節（ABCC）按鈕，就可以獲得*佳的圖像。（自動調節：與以往相比，縮短時間約13秒*3）當然，也可以通過觸屏進行操作。
*3對比日立SEM SU1510

全新定位系統“SEM MAP”
“SEM MAP”功能可有效實現觀察時的視野搜索和樣品定位。根據內置攝像頭所拍攝的圖像，定位樣品，一鍵點擊即可移動到觀察部位。
在SEM MAP上導入的圖像會自動進行粘貼，并以分布圖的形式顯示。

可放置在桌面上的緊湊型電子顯微鏡
寬幅僅為45厘米，緊湊型設計，*大程度地減小占用空間。機體僅支持AC100 V 3P電源插座。此外，機體和電源盒可以分離，從而大幅度提升諸如桌面設置等的布局靈活性。

項目	內容
分辨率*3	4.0 nm（二次電子像、加速電壓：20 kV、高真空模式） 15.0 nm（二次電子像、加速電壓：1 kV、高真空模式） 5.0 nm（背散射電子像、加速電壓：20 kV、低真空模式）
加速電壓	0.3 kV～20 kV
倍率	×6～×300,000 （照片倍率） ×16～×800,000 （顯示器顯示倍率）
低真空設置	6～100 Pa
電子槍	集中燈箱（Pre-Centered Cartridge Filament）
樣品臺	3軸馬達驅動樣品臺 X：0～50 mm、Y：0～40 mm、Z：5～15 mm T：-15～90°、R：360° 大可觀察范圍：直徑64mm（R聯用）4
*大樣品尺寸	直徑80 mm（選配：直徑153mm）
*大樣品高度	40 mm
尺寸	機體：450（寬度）×640（進深）×690（高度） mm 電源盒：450（寬度）×640（進深）×450（高度） mm
選項	高敏感度低真空檢測器（UVD2.0）能量色散型X射線檢測器（EDS）
軟件	Multi Zigzag（連續視野圖像導入功能）

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